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低损耗光学元件的反射率和透射率的测定

低损耗光学元件的反射率和透射率的测定

  • 产物型号:
  • 更新时间:2023-12-21
  • 产物介绍:低损耗光学元件的反射率和透射率的测定
    低损耗光学组件的反射率值R> 99%和透射率值T> 99%可以通过腔衰荡时间测量非常精、准确地测量。与在光谱仪中进行测量相比,该方法具有三个主要优点:
    Ø适用于非常高的反射率和透射率
    Ø无法获得比实际值高的测量值
    Ø它具有很高的准确性
  • 厂商性质:代理商
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产物介绍

品牌其他品牌价格区间面议
组件类别光学元件应用领域医疗卫生,环保,化工,电子/电池,综合

低损耗光学元件的反射率和透射率的测定

低损耗光学组件的反射率值R> 99%和透射率值T> 99%可以通过腔衰荡时间测量非常准确地测量。与在光谱仪中进行测量相比,该方法具有三个主要优点:

Ø适用于非常高的反射率和透射率

Ø无法获得比实际值高的测量值

Ø它具有很高的准确性


Basic CRD Measurement Setup

基本颁搁顿测量设置



Layertec随附各种腔衰荡系统,通过这些系统可以稳定地控制光学组件的质量。 有关更多详细信息,请参阅我们的目录内容“低损耗光学器件和腔衰荡时间测量介绍”。

您可以在此处下载我们的目录。

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低损耗镜 - CRD测量示例


 


转向镜 - 宽带CRD测量示例



薄膜偏振片- CRD测量示例




 

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